缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下：
Defects是软件发行以后一段时间（一般6个月）缺陷的数目。这里我们将不讨论实际应用中的度量问题。下面的图表可以说明使用DD度量时的效果。
|
Version 1 |
Version 2 |
|
| # |
Defects |
LOC |
Defects/LOC |
Defects |
LOC |
Defects/LOC |
Relation |
|
1 |
12 |
777 |
0.01544 |
3 |
55 |
0.05455 |
< |
|
2 |
5 |
110 |
0.04545 |
6 |
110 |
0.05455 |
< |
|
3 |
2 |
110 |
0.01818 |
3 |
110 |
0.02727 |
< |
|
4 |
3 |
110 |
0.02727 |
4 |
110 |
0.03636 |
< |
|
5 |
6 |
1000 |
0.00600 |
70 |
10000 |
0.00700 |
< |
|
Sum |
28 |
2107 |
0.01329 |
86 |
10385 |
0.00828 |
> |
表1:缺陷密度度量行为。版本1与版本2缺陷密度度量的对应关系
假设，我们有两个程序版本，版本1和版本2，并且每个版本包含5个模块。对每个版本我们考察它的缺陷密度度量。我们可以看到，版本1的每个模块比版本2的每个模块都有较小的缺陷密度度量。当把每个版本的缺陷数（Defects）与代码行（LOC）数加起来后，我们得到合计行。结果令人吃惊，尽管版本1的每个模块的缺陷密度度量都比版本2的小，但版本1的所有模块的缺陷密度度量却比版本2的大。
问题是：这是怎么发生的？
请看第3讲（ third lecture）给出的结论 
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